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MicroLine 300桌上型半自动CD测量系统
MicroLine-300是一款桌上型半自动CD测量系统。主要技术参数：◆测量范围(XYZ)：标准：200×200×25mm；可选：300x300x25◆视场内测量精度：10nm(100X 镜头)；Z轴ju jiao范围：25 mm◆视场内测量范围：0.5um~400
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2023-09-12 |
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影像测量仪VIEW Benchmark300
XYZ测量行程：300x300x150 mm/ 300x300x200 mm承载力：30 kg光学镜头：单放大倍率，固定倍率固定镜头光学与工厂可配置的后适配管和现场可互换前置镜头;可选双放大率，具有现场可更换的前置透镜的固定透镜
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2023-09-12 |
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Summit 450/600/800影像测量仪
Summit450/600/800 参数介绍：XY 精度: E2=(2.0+4L/1000)um(E2=(1.5+5L/1000)um 高分辨率刻度尺)Z 线性精度: E1=(1.8+5L/1000)um(E1=(1.4+5L/1000)um TTL激光及可选5X镜头)英制单位 公制单位测量范围(Summit 450) 18
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2023-09-12 |
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VIEW BenchMark 250影像测量仪
BenchMark 250 主要技术参数XY 精度:E2=(1.8+6L/1000)微米(E2=(1.0+6L/1000)微米需高分辨率光栅尺) Z 精度:E1=(2.0+5L/1000)微米(E1=(1.2+5L/1000)微米TTL激光和5倍镜头)英制单位公制单位测量范围12 X6X6300x15
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2023-09-12 |
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VIEW BenchMark 450影像测量仪
BenchMark 450 主要技术参数 XY 精度:E2=(2.5+5L/1000)微米Z精度:E1=(2.0+8L/1000)微米 （ 带TTL激光和可选5倍镜头）英制单位公制单位测量范围18 X18X6450x450x150毫米尺寸48 X45X671210x1140X1700毫米负
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2023-09-12 |
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Pinnacle+ Plus 好精度的尺寸测量系统
VIEW Pinnacle+Plus将Pinnacle的性能提升到了下一个等级Pinnacle+Plus拥有坚硬的花岗岩支撑结构和高性能的Z轴移动组件，使测量微电子零件和组件时产生尽可能低的不确定性.好先好进的线性马达控制技术造就了运行速度
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2023-09-12 |
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Benchmark 624 大容量三轴式测量系统
VIEW Benchmark 624是QVI旗下一款大容量式全自动三轴尺寸测量系统.®VIEW Benchmark 624的移动桥式结构和光学可使被测组件好始好终保持静止状态X,Y,Z行程(mm)：624 x 624 x 150，0.5 μm 选项：624 x 624 x 200X,Y,Z
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2023-09-12 |
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VIEW Benchmark XLT 大行程非接触式计量系统
QVI 旗下 VIEW Benchmark XLT是一款稳定可靠的大行程非接触式计量系统。XLT拥有从900毫米X1500毫米到1500毫米X2000毫米的延伸行程范围，可以测量大面积组件和多个小组件的组合群体。其好的光学,照明,以及图像处理功
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2023-09-12 |
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